线圈检测仪
匝间短路检测仪DWX系列
DWX-01A【1000V】-05A【5000V】-10A【10000V】
低电感・线圈测试的决定版！
10μH线圈波形清晰显示
随着电子器械的高度化，被使用的线圈部品也变得越来越小型化高周波了。DWX是一种 适合各种电感线圈测试的仪器。此仪器搭载了高速开关的脉冲电源，采用高速·A/D取样 电路，成功的解决了目前较难的低电感线圈测试问题。
DWX系列的特点
成功的实现了目前较难的低电感线圈测试
随着电子器械的高度化，被使用的线圈部品也变得越来越小型化高周波了。DWX是一种 可以对应各种电感线圈测试的仪器。此仪器搭载了高速开关的脉冲电源，采用高速·A/D取样 电路，成功的解决了目前较难的低电感线圈测试问题。 。
通过阻抗分压提高了波形的准确度以及放电感应的强度
脉冲波形入力回路中，因为采用了高性能阻抗分压回路，所以能够得到清晰准确的波形，而且提高了波形判断能力以及放电检出感应度。
（＊和本社DW・DWS系列（不含F类型）比较，大大提高了检出感度。）
通过高速lOOMHz・8KPoint·取样实现了高感度，高精度的测试
高速A/D取样，可以准确的捕捉到低电感・线圈的极短脉冲应答的同时，而且8KPoint・取样的高精細数据判定，还可以确切判定微少芯波形。
应用了Laplacian算法的放电量检测，子窗口页面显示，清晰易懂
通过使用Laplacian演算的波形解析，抽取由高压脉冲产生的放电成分，并在每个图形的子窗口上直观，易懂显示放电测试。
8.4英寸・彩色TFT液晶画面，清晰可见
保留了原有的AREA,DIF-AREA,FLUTTER等短路测试判定功能
波形判定中有AREA判定（面积比较）・DIF-AREA判定（波形差面积比较）・FLUTTER量检出（放电量检出）・LAPLACIAN量量检出（放电量检出）的检查方法等多种组合，适用于各种线圈的测试试验。
Compact Flash Memory Card・插卡标准装备可以使标准波形无限扩张
匝间短路检测仪的概要
匝间短路检测仪可以对线圈做到有效的，非破坏性测试。
其原理是将相同的脉冲电流传递给标准绕组（主线圈）和被测绕组（采样线圈），比较瞬态现象波形，并判断质量。瞬态波形，即在线圈中产生的减衰振动波形表示电感和Q，并且可以同时确定线圈的匝数差，层厚度，或确定材料的差异等等。施加更高的脉冲电压还可以从电晕放电中检测出绝缘缺陷。
换句话说，可以在非常短的时间内可以对线圈做各种检测
1.面积比较（AREA）
在指定的时间间隔内比较主设备区域的大小和样本的区域大小。
。
例图1 算出a-b区间的面积，判定它们之间差异大小。判定标准设为%，如果被测的物判定结果在所设范围内，即是良品。面积大小，大致与线圈中的能量损失成比例，根据损耗大小来判断。例如当样品线圈处于短路状态，损耗部分就会增大并且此结果可以显示出来。
2.波形差面积比较(DIF-AREA)
计算指定间隔内主设备和样本之间波形的不同部分的面积。
例图2算出a-b区间的面积，和标准面积（图1）相比较，根据其大小程度可以做出判定。判定标准设为%，如果被测的物判定结果在所设范围内，即是良品。波形差面积的大小，通过L值及损失程度大小的总和来显示。特别是L值变化有问题的时候，这个方法最有效。
3.电晕量比较判定（FLUTTERVALUE)
忽略波形差异，检测像图3的电晕放电等周波成分。
通过对任意指定部分的波形应用滤波处理来检测电晕分量，并且基于其幅度确定电晕分量。判定基准设定为整数值，如果被测的物判定结果在所设范围内，即是良品。
4.电晕量比较判定（LAPLACIANVALUE)
Laplacian是一种数字滤波方法，用于在图像处理中检测物体的边缘强度，与FLUTTER VALUE方法相比，能够使波形数据中隐藏的不连续性数值（即噪音）数据化，可以判断准确且易于理解的放电成份。
5.线圈绝缘破坏电压测试功能
(ImpulseBreakeDown Starting Voltage Test :BD V test)
对被测试线圈逐渐施加电压的同时，通过AREA以及Laplacianl进行绝缘破坏判定，临近破坏前施加的实际测试电压作为被测线圈的破坏电压来显示（図4）
6.目测判定
保存的标准波形和样品波形可以简单的叠加显示，从而更能容易区分2个先前的特性差异。
DWX系列性能
| DWX-01A | DWX-05A | DWX-10 | ||
|---|---|---|---|---|
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施加电压・电压可调档位 ・施加能量 ※ 抵抗负荷为１ＫΩ |
50V～1000V （10V档） 最大5m焦耳 |
500V～5000V （100V档） 最大0.12焦耳 |
1000V～10000V （100V档） 最大0.5焦耳 |
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| 测试电感范围 | 10μH以上 | 10μH以上 | 50μH以上 | |
| 采样・速度 / 内存 |
8bit／10nano-sec.（100MHz） / 8192-Byte | |||
| 采样・范围 （WIDTH） |
-4，-3，-2，-1，0，1，2，3，4，5 10个范围（0 DW系列互换） |
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| 测试输入回路 |
电阻分压（5MΩ） | |||
| 画面显示，波形显示范围 | 640×480（VGA），8.4寸彩色液晶，4色表示 512×256 |
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| 判定方法 | 和标准波形比较 根据波形面积，波形差面积，放电量进行比较判定 线圈绝缘破坏电压测试功能 |
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| 标准波形 储存容量 |
主机扩张 | 196种（14种／14页） Compact Flash Memory700中（14种／50页） |
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| 外部接口 | 并行口I／O（Start，Reset，OK，NG，Busy，Master等） RS-232C（测试控制 测试数据） 打印机板（画面硬拷贝等） EtherNet适配器（可选） |
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| 附件 | 测试电缆线1.5M 1根，电源线1根（付3P转换头） 并行口I／O连接器1个 使用说明书・测试成绩书 1份 |
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| 使用条件 | 0℃～40℃ 电源电压：100V～240V±10％（出厂时工厂设定） | |||
| 外形尺寸 （不含Carry Handle） ・重量 |
345(W)×185(H)×370(D) 约10Kg |
345(W)×325(H)×370(D) |
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