| 인덕턴스 범위 |
L-LO: 0.01μH~1μH L-HI: 1μH~100μH T2레인지 전환 |
| 시험 전압 범위 |
1V~300V |
3V~1000V |
| 설정 전압 분해능 |
0.1V step |
0.3V step |
| 최소 측정 전압 분해능 |
0.2V/dgt |
1.0V/dgt |
| 최대 인가 전압(참고값) |
“최대 인가 전압 범위(목표값)” 그래프 참조 |
| 최대 출력 전압(무부하) |
L-LO: 5000V L-HI: 2500V 2레인지 전환 |
| 파형 샘플링 분해능 |
300MHz・3.333nsec 12bit |
| 샘플링 범위(Width) |
7레인지 수동 전환 |
| 인가 펄스 수(Pulse) |
PreCheck: 1펄스 시험 펄스: 16펄스 |
| 최소 시험 시간(1펄스, 화면 표시 없음) |
하이스피드 모드: 판정 있음: 18 ms 판정 없음: 10 ms
테스터 모드: 화면 표시 있음: 108 ms 화면 표시 없음: 53 ms |
| 판정 항목・출력 신호(※ 옵션 장착 시) |
【표준 판정 항목】
• 시험 판정: OK / NG
• 면적(Area): NG
• 파형 차이 면적(Dif Area): NG
• 피크 전압 변동(PeakStb): NG
• 라플라시안(Laplacian): NG
• 감쇠율(Qatt): NG
• 접촉 확인(PreCheck): CE
【옵션: 항목별 판정 출력 I/O】
위의 각 판정 항목(Area, Dif Area, PeakStb, Laplacian, Qatt)에 대한 판정 결과(NG)를 외부 장비에 I/O 신호로 개별 출력할 수 있습니다. |
| 시험 회로 |
4단자 |
| 시험 케이블 길이 범위 |
권장: 1.6 m |
| 부가 기능 |
마스터 파형 저장 수: 196종; CF 메모리 카드를 통한 확장; RS-232C 및 I/O를 통한 외부 제어; 시험 결과 로그 저장 및 화면 하드카피 저장 |
| 외부 I/O 제어 신호 |
인가 트리거(Trig)·인가 종료(Index) 등
검사 핸들러용 고속 인터페이스 타이밍을 지원합니다. |
외형 치수 (캐리 핸들 제외) |
345(W)×185(H)×360(D) |
| 전원 전압 |
AC 100/115/220/240 V ±5%(출하 시 공장 설정) |
| 옵션 |
시험 케이블・각종 지그・항목별 판정 출력 I/O |