절연 시험기 LI 시리즈
칩 파워 인덕터의 코일에 임펄스 전압을 인가하여 권선 내부의 절연 시험(서지 시험)을 실시할 수 있습니다.
평가 시험용: 코일 부품의 상세한 평가 시험에 사용할 수 있습니다.
고속 검사 장비용: 시험 시간은 판정 없이 10 ms, 판정 포함 시 18 ms입니다.
※（최속 조건: 공심 코일, 임펄스 1회 인가, 판정 없음, 화면 표시 없음）
| DWX-300LI3a | DWX-01LI3a | DWX-05A | ||
| 용도 | 정밀 시험 | 초저인덕턴 | 일반 코일 부품 전반 | |
| 인덕턴스 범위 | L-LO: 0.01μH～1μH L-HI: 1μH～100μH 2레인지 전환 | 10μH～100mH | ||
| 최대 출력 전압(무부하) | 300V | 1000V | 5000V | |
| 측정 전압 분해능 | 0.1V step | 0.3V step | 100V step | |
| 최대 인가 전압(참고값) | 최대 인가 전압 범위(목표값)그래프 참조 | 10μH일 때 1000V | ||
| 파형 샘플링 분해능 | 300MHz・3.333nsec 12bit | 100MHz | ||
| 최소 시험 시간(1펄스, 화면 표시 없음) | 하이스피드 모드： 판정 있음 18msec 판정 없음 10msec 테스터 모드 ： 화면 표시 있음 108msec 화면 표시 없음 53msec |
200msec | ||
| 판정 항목・출력 신호(※ 옵션 장착 시) | 【표준 판정 항목】 • 시험 판정: OK / NG • 면적(Area): NG • 파형 차이 면적(Dif Area): NG • 피크 전압 변동(PeakStb): NG • 라플라시안(Laplacian): NG • 감쇠율(Qatt): NG • 접촉 확인(PreCheck): CE 【옵션: 항목별 판정 출력 I/O】 위의 각 판정 항목(Area, Dif Area, PeakStb, Laplacian, Qatt)에 대한 판정 결과(NG)를 외부 장비에 I/O 신호로 개별 출력할 수 있습니다. |
면적(Area%) • 파형 차이 면적(Dif Area%) • 피크 전압(Peak Stb%) • 방전 레벨(Laplacian) • 파형 감쇠율(Laplacian%) • 파괴 전압 평가 시험(BDV) / 수동 내압 평가 시험(Manual BDV) | ||
| 시험 회로 | 4단자 | 2단자 | ||
| 시험 케이블 길이 범위 | 권장1.6m | |||
| 부분방전 시험 대응 | 지원 불가 | PD대응 | ||
| 부가 기능 | 마스터 파형 저장 수 196종、CF 메모리 카드를 통한 확장、RS-232C 및 I/O를 통한 외부 제어、시험 결과 로그 저장 및 화면 하드카피 저장 | |||
| 외부 I/O 제어 신호 | 인가 트리거(Trig)·인가 종료(Index) 등 검사 핸들러용 고속 인터페이스 타이밍을 지원합니다 |
시험 시작(Start)·시험 중(Busy) 등의 신호를 통한 외부 제어 | ||
| 외형 치수 (캐리 핸들 제외) |
345(W)×185(H)×360(D) | |||
| 부속품 | 4단자 시험 케이블(길이는 별도 협의) | 2단자 시험 케이블 1.6m | ||
| 전원 전압 | AC100V/115V/220V/240V ±5％ 50/60Hz 2A （출하 시 공장 설정） | |||
DWX-300LI3a
DWX-01LI3a
DWX-05A
