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코일테스터

신형임펄스 권선시험기

DWIT-05、DWIT-05PD

저인덕턴스코일시험의 결정판
10μH코일의 파형도 클리어하게 표시

DWIT시리즈는 이제까지의 임펄스시험기“DWX시리즈“ 에서 축적된 기술, 성능, 신뢰성을 계승하며 한층더 낳은 성능향상을 추구하였습니다.
고정밀도 및 다채로운 기능과 다양한 확장성, 조작성의 향상, 충실한 외부통신 인터페이스등을 결집시킨 새로운 임펄스 시험기 입니다.

특징

  • 12bit분해능×300MHz샘플링 고분해능, 고속샘플링ADC회로에 의해 보다 고정밀도의 파형취득이 가능하게 되었습니다. 최대16384포인트의 분해능에 의해 파형의 흔들림 및 부분방전노이즈를 확실히 포착하며, 시험후에 파형의 확대표시가 가능합니다.
    커서에 의해 파형의 상승(rising-up)시간과 펄스폭, Peak전압의 확인이 가능합니다.
  • 데이터베이스관리로 검사공정을 일목요연하고 관리 마스터파형, 판정조건, 시험결과(시험파형 및 판정값)을 본체내장의 데이터베이스로 보존합니다.
    SQL클라이언트 소프트를 이용하여 PC상에서 원격으로 열람할 수 있습니다.
    그리고 시험결과를 양,부별, 일자별로 검색가능하며 NG발생율등의 분석이 가능합니다.
  • 풍부한 추가옵션 PD（부분방전）검출안테나 / 3ch+GND회로절환(내장)/ 4단자측정회로 / 인가에너지증설 / 전류측정등 풍부한 추가기능을 준비（※기능에 따라 동시탑재가 어려울 수 있습니다.）
  • 새로운 기능 10.1인치 칼라TFT액정 터치판넬에 의해 조작성향상
    스크린샷의 외부메모리(USB, SD) 보존
    마스터파형의［평균화 / 합성 / 시험파형］에따른 작성

개요

임펄스권선시험기는 권선상태인 시험대상에 전기적시험을 효율적, 비파괴적으로 시행합니다. 그 원리는 표준권선(마스터코일)과 피시험권선(시험대상)에 임펄스전압을 인가하고 그 과도현상파형을 비교함으로써 양,부판정을 하는 시험입니다. 과도현상파형 즉 코일내에 발생하는 감쇄진동파형이 의미하는 것은 인덕턴스 및 Q값으로 코일의 턴수나 Layer-short, Core재질의 차이등을 동시에 판정할 수 있습니다. 여기에 높은 임펄스전압을 인가함으로써 부분방전,코로나방전의 발생으로부터 절연불량을 발견할 수 있습니다. 즉 권선의 절연품질로써 필요한 대부분의 특성을 극히 짧은시간에 시험할 수 있습니다.

DWIT-05의 새로운모드

Aging Test（연속인가）모드 임의의 시간또는 횟수에 의한 연속인가기능을 탑재하였습니다. 임펄스전압의 장시간동안 연속인가에 의해 시료의 열화평가를 할 수 있습니다. 그리고 옵션으로 PD센서를 추가함으로 PDIV시간(횟수)등을 분석할 수 있습니다.

Test Result모드 시험결과의 수치를 본체메모리에 보존 그리고 OK・NG 와 NG판정이된 시험항목의 횟수를 그래프와 수치로 표시합니다. 여기에 과거1000회분의 임펄스시험의 시험화면을 보존하여 시험후 review가 가능합니다.

기존의 판정항목

분해능・샘플링주파수・샘플링수의 향상에 의해 더욱더 고정밀도로 측정 Area판정 면적비교판정 공진파형의 면적크기를 비교

절연파괴전압시험（Break Down Voltage Test）

인가전압을 자동으로 상승시켜가며 파괴전압을 찾는 BDV시험모드를 표준탑재

새로운 시험 항목 추가!

시험 대상의 특성을 나타내는 새로운 지표 도입 및 실측값 측정


1.Frequency판정 공진 주파수 f에 따른 판정
자기 공진 파형의 주기를 측정하고, 그 평균값을 바탕으로 주파수를 산출합니다。
시험 대상의 임피던스 성분 및 커패시터 성분의 변화 또는 손실에 따라 주파수 변화가 나타납니다.


2.Logarithmic decrement판정 대수 감쇠율 σ에 따른 판정
자기 공진 파형의 진폭을 측정하고, 그 평균값을 바탕으로 대수 감쇠율을 산출합니다.
시험 대상의 인덕턴스 및 커패시터의 변화 또는 손실에 따라 파형 감쇠에 변화가 나타납니다.


3.VPeak stability판정 공진 파형의 피크 전압 V에 따른 판정
자기 공진 파형의 피크 전압값을 기준으로 진폭의 크기를 측정합니다.
피크 전압은 파형 왜곡이나 방전에 따른 교란으로 인해 변하므로, 시험 대상에서 발생한 손실이 결과에 반영됩니다.


4.Qdmp 판정 공진 파형의 피크 전압 V에 따른 판정
마스터 파형을 기준으로 설정 범위 내의 주기를 계산합니다. 그런 다음 마스터 파형과 테스트 파형의 동일한 주기 구간에서 면적을 비교하여 합격 여부를 판정합니다. 시간축 방향(좌우)으로 편차가 있는 경우에도 코일의 공진 파형 크기를 비교할 수 있다는 점이 특징입니다.

사양

인가전압 ・ 에너지 100-5000V・0.12J
전압확도 ±5.0%
인가스텝 1V
인덕턴스범위 5μ-1H
분해능 ／샘플링속도 12bit ／ 최대300MHz(20스텝)
샘플링 데이터 16384 , 8192 , 4096 , 2048 , 1024 , 512
화면표시 10.1인치칼라TFT액정(1280×800(WXGA))　터치판넬
시험모드 Impulse Test, BDV（PDIV） Test, Aging Test（NEW）
판정항목 기존판정 Area(면적비교), Dif-Area(파형차비교), Flutter(방전량비교) , Laplacian(방전량비교)
새로운판정（NEW）Pkstb(Peak전압), Freq(공진주파수), Ldec(대수감쇄율)
PDIV판정※옵션-
안전보호기능 비상정지버튼, 인터록
내부메모리 마스터파형 1000기종(100기종/10페이지), 시험결과・전압파형(csv), 스크린샷（png)
외부인터페이스 RS-232C(최대115,200bps)
Control(NPN/PNP트랜지스터(결선에의한 절환), D-sub37pin)
Ethernet통신(1000BASE-T), 프로토콜(UDP/IP, TCP/IP)
USB2.0호스트(최대 3Mbps)
Trigger출력(임펄스전압인가 동기신호출력)
외부저장매체 USB메모리(2포트), SD카드, SDHC카드(최대32GB)
사용환경 0℃～40℃, 80%RH(결로없을 것)
입력전원 AC100 ～ 240V ±5%, 50Hz/60Hz 2A
외형칫수 ・ 중량 342(W)×188(H)×366(D) (※돌기부 미포함)　・　약9.8kg
부속품 시험케이블, 전원케이블(A타입, 3P어댑터부속), 퓨즈, 취급설명서, 시험성적서
  • 인가전압 ・ 에너지
    100-5000V・0.12J
  • 전압확도
    ±5.0%
  • 인가스텝
    1V
  • 인덕턴스범위
    5μ-1H
  • 분해능 ／샘플링속도
    12bit ／ 최대300MHz(20스텝)
  • 샘플링 데이터
    16384 , 8192 , 4096 , 2048 , 1024 , 512
  • 화면표시
    10.1인치칼라TFT액정(1280×800(WXGA))　터치판넬
  • 시험모드
    Impulse Test, BDV（PDIV） Test, Aging Test（NEW）
  • 판정항목
    기존판정Area(면적비교), Dif-Area(파형차비교), Flutter(방전량비교) , Laplacian(방전량비교)

    새로운판정（NEW）Pkstb(Peak전압), Freq(공진주파수), Ldec(대수감쇄율)
    PDIV판정※옵션-
  • 안전보호기능
    비상정지버튼, 인터록
  • 내부메모리
    마스터파형 1000기종(100기종/10페이지), 시험결과・전압파형(csv), 스크린샷（png)
  • 외부인터페이스
    RS-232C(최대115,200bps)
    Control(NPN/PNP트랜지스터(결선에의한 절환), D-sub37pin)
    Ethernet통신(1000BASE-T), 프로토콜(UDP/IP, TCP/IP)
    USB2.0호스트(최대 3Mbps)
    Trigger출력(임펄스전압인가 동기신호출력)
  • 외부저장매체
    USB메모리(2포트), SD카드, SDHC카드(최대32GB)
  • 사용환경
    0℃～40℃, 80%RH(결로없을 것)
  • 입력전원
    AC100 ～ 240V ±5%, 50Hz/60Hz 2A
  • 외형칫수 ・ 중량
    342(W)×188(H)×366(D) (※돌기부 미포함)　・　약9.8kg
  • 부속품
    시험케이블, 전원케이블(A타입, 3P어댑터부속), 퓨즈, 취급설명서, 시험성적서
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