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放电检测仪

新型匝间短路检测仪

DWIT-05PD

低电感・线圈测试的决定版！
10μH线圈波形清晰显示

DWIT系列继承了之前的脉冲绕组测试仪“DWX系列”所培育的技术、性能和可靠性，同时追求进一步的性能改进。
这是一款精度高、功能丰富、扩展性多样、可操作性提高、外部通讯接口齐全的新型匝间短路检测仪。

特点

  • 12bit高分辨率,300MHz高速建模 高分辨率、高速采样ADC电路可实现更高分辨率的波形采集。
    高达16,384点的存储器可靠地捕捉波形扰动和局部放电噪声，并可在测试后放大显示波形。
    可通过触摸屏幕控制光标实时检查波形的上升时间、脉冲宽度和峰值电压。
  • 通过数据库管理可视化检查过程 主波形、判断条件和测试结果（测试波形和判断值）保存在主机内置数据库中。
    可以使用 SQL 客户端软件从计算机远程查看。
    此外，还可以按通过/失败以及日期和时间搜索测试结果，这对于分析 NG 发生率非常有用。
  • 丰富的可选配件 提供丰富的可选功能，包括PD（局部放电）检测天线/3ch+GND内置开关电路/4端子测量电路/施加能量扩展/电流测量。（※有无法同时搭载的功能，请与我们联系）
  • 亮点功能 10.1 英寸彩色 TFT LCD 触摸屏提高了操作性
    将屏幕截图保存到外部存储器（USB、SD）
    通过[平均/合成/测试波形]创建主波形

概要

可高效、无损地对处于绕线状态的测试对象进行电气测试。 该测试的原理是向参考绕组（主线圈）和被测绕组（测试对象）施加脉冲电压，通过比较波形的方式来判断优良的方式。 线圈发生衰减意味着该线圈内存在电感和Q值。可同时检测线圈的绕线有无差异，线圈有无发生短路，铁芯材质是否发生变化等。 此外，通过施加高脉冲电压，可以观察线圈是否发生放电及绝缘不良。 总之，绕组质量所需的绝大部分特性都可以在极短的时间内进行检测。

DWIT-05的新模式

连续输出电压模式 可任意设定连续输出电压的时间和次数。该功能可有效评价测试物的绝缘性能。同时，通过配合使用PD感应器，可检测出局部放电发生为止的时间和次数。

检测结果模式 检测结果实时保存至主机记忆体内。判定的结果，不良时的具体内容通过图表和数值的形式显示。此外，可保存过去 1000 次检测结果的检测画面，并反复观看

现有的检测功能

分辨率・建模频率・提高建模数・精确检测

绝缘破坏电压检测（Break Down Voltage Test）

配套使用局部放电感应器时，可有效检测PDIV，RPDIV，PDEV，RPDEV等IEC60034-18-41及IEC61934国际规格所规定的检测项目。

新的检测项目！

引入用于表示测试对象特性的新指标，并测量实际值


1. 频率判定 根据共振频率f进行判定
测量自谐振波形的周期，并根据其平均值计算频率。
测试对象的阻抗成分和电容成分的变化，或损耗会导致频率发生变化。


2. 对数衰减率判定 根据对数衰减率σ进行判定
测量自谐振波形的振幅，并根据其平均值计算对数衰减率。
测试对象的电感和电容成分的变化，或损耗会导致波形衰减发生变化。


3. VPeak稳定性判定 根据共振波形的峰值电压V进行判定
根据自谐振波形的峰值电压值测量振幅强度。
由于峰值电压会因波形失真或放电引起的扰动而发生变化，因此可以反映测试对象中产生的损耗。


4. Qdmp判定 通过相同共振周期的面积比较进行判定
以主波形为基础，计算设定范围内的周期，并对主波形和测试波形在相同周期区间内的面积进行比较，从而判定合格与否。其特点是，即使在时间轴方向（左右）存在偏移，也能够比较线圈共振波形的幅值。

关于“3通道＋GND切换电路”选项

一次连接即可自动完成三相＋GND的全相测试！
无需像以往使用两个鳄鱼夹那样，在进行相间（U-V / V-W / W-U）及对地（例如U-VWE）测量时反复更换连接。即使是使用3根引线的三相线圈，只需首次连接一次，内部继电器即可自动切换电路。从相间到GND（对地）之间的冲击测试及绝缘评估均可一次性完成。

・无需更换连接，大幅缩短生产节拍

・将连接错误及接触不良的风险降至最低

・有助于实现检测工序的全面自动化和节省人力

规格

施加电压・施加能量 100-5000V・0.12J
电压确度 ±5.0%
施加电压的幅度 1V
电感范围 5μ-1H
分辨率/建模速度 12bit/最大300MHz(20step)
建模数 16384 , 8192 , 4096 , 2048 , 1024 , 512
画面表示 10.1英寸TFG液晶触摸屏(1280×800(WXGA))
检测模式 Impulse Test, BDV（PDIV） Test, Aging Test（NEW）
检测项目 当前检测项目 Area(面积), Dif-Area(面积差), Flutter(放电量) , Laplacian(放电量)
新功能（NEW）Pkstb(峰值电压), Freq(共振频率), Ldec(対数減衰率),Q Dumping（相同共振周期的面积比较）
部分放电检测 ※可选配件〇
安全保护功能 紧急停止按钮，联锁功能
内部储存 主波形1000机种(100机种/10页)　，检测结果・电压波形(csv), 截屏（png)
外部通信接口 RS-232C(最大115,200bps)
Control(NPN/PNP转换(通过结线切换), D-sub37pin)
以太网通信(1000BASE-T),(UDP/IP协议, TCP/IP协议)
USB2.0ホスト(最大3Mbps)
Trigger输出
外部存储 USB(2个), SD, SDHC(最大32GB)
使用环境 0℃～40℃, 80%RH(无结露)
输入电源 AC100 ～ 240V, 50Hz/60Hz 2A
外形尺寸・重量 342(W)×188(H)×366(D) (※不含突起部分)・约9.8kg
付属品 检测线 电源线(ATYPE, 附带3PIN转换), 保险丝, 使用说明书, 检测成绩书
  • 施加电压・施加能量
    100-5000V・0.12J
  • 电压确度
    ±5.0%
  • 施加电压的幅度
    1V
  • 电感范围
    5μ-1H
  • 分辨率/建模速度
    12bit/最大300MHz(20step)
  • 建模数
    16384 , 8192 , 4096 , 2048 , 1024 , 512
  • 画面表示
    10.1英寸TFG液晶触摸屏(1280×800(WXGA))
  • 检测模式
    Impulse Test, BDV（PDIV） Test, Aging Test（NEW）
  • 检测项目
    当前检测项目Area(面积), Dif-Area(面积差), Flutter(放电量) , Laplacian(放电量)
    新功能（NEW）Pkstb(峰值电压), Freq(共振频率), Ldec(対数減衰率),Q Dumping（相同共振周期的面积比较）
    部分放电检测 ※可选配件〇
  • 安全保护功能
    紧急停止按钮，联锁功能
  • 内部储存
    主波形1000机种(100机种/10页)　，检测结果・电压波形(csv), 截屏（png)
  • 外部通信接口
    RS-232C(最大115,200bps)
    Control(NPN/PNP转换(通过结线切换), D-sub37pin)
    以太网通信(1000BASE-T),(UDP/IP协议, TCP/IP协议)
    USB2.0ホスト(最大3Mbps)
    Trigger输出
  • 外部存储
    USB(2个), SD, SDHC(最大32GB)
  • 使用环境
    0℃～40℃, 80%RH(无结露)
  • 输入电源
    AC100 ～ 240V, 50Hz/60Hz 2A
  • 外形尺寸・重量
    342(W)×188(H)×366(D) (※不含突起部分)・约9.8kg
  • 付属品
    检测线 电源线(ATYPE, 附带3PIN转换), 保险丝, 使用说明书, 检测成绩书
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