| 用途 |
精密测试 |
超低电感 | 一般线圈元件 |
| 电感范围 |
L-LO: 0.01μH~1μH L-HI: 1μH~100μH 双量程切换 |
10μH~100mH |
| 最大输出电压(空载) |
300V |
1000V | 5000V |
| 测量电压分辨率 |
0.1V step |
0.3V step | 100V step |
| 最大施加电压(参考值) |
请参阅“最大施加电压范围(目标值)”图表 |
1,000 V 时为10 μH |
| 波形采样分辨率 |
300MHz・3.333nsec 12bit |
100MHz |
| 最短测试时间(1个脉冲、无画面显示) |
高速模式: 有判定 18 msec 无判定 10 msec
测试仪模式: 有画面显示 108 msec 无画面显示 53 msec |
200msec |
| 判定项目・输出信号(※安装选配件时) |
【标准判定项目】
• 测试判定:OK / NG
• 面积(Area):NG
• 波形差面积(Dif Area):NG
• 峰值电压变化(PeakStb):NG
• 拉普拉斯(Laplacian):NG
• 衰减率(Qatt):NG
• 接触检查(PreCheck):CE
【选配功能:各判定项目的I/O输出】
上述各判定项目(Area、Dif Area、PeakStb、Laplacian、Qatt)的判定结果(NG)均可作为I/O信号分别输出至外部设备。 |
面积(Area%)
・波形差面积(Dif Area%)
・峰值电压(Peak Stb%)
・放电等级(Laplacian)
・波形衰减率(Laplacian%)
・击穿电压评估测试(BDV)/ 手动耐压评估测试(Manual BDV) |
| 测试电路 |
4端子 |
2端子 |
| 测试电缆长度范围 |
推荐: 1.6 m |
| 支持局部放电测试 |
不支持 |
支持PD |
| 附加功能 |
主波形存储数量 196 种机型, 可通过CF存储卡扩展, 支持通过RS-232C和I/O进行外部控制, 可保存测试结果日志及画面硬拷贝 |
| 外部I/O控制信号 |
施加触发(Trig)、施加结束(Index)等
支持检测Handler用高速接口时序。 |
通过测试开始(Start)、测试中(Busy)等信号进行外部控制 |
外形尺寸 (不含提手) |
345(W)×185(H)×360(D) |
| 附件 |
4端子测试电缆(长度另行协商) |
2端子测试电缆,1.6 m |
| 电源电压 |
AC100V/115V/220V/240V ±5% 50/60Hz 2A (出厂时设定) |