코일테스터

  • TOP
  • 제품소개
  • 코일테스터
  • DWX-01A【1000V】-05A【5000V】-10A【10000V】

임펄스권선시험기 DWX 시리즈

DWX-01A【1000V】-05A【5000V】-10A【10000V】

저인덕턴스・코일시험의 결정판!
10μH제품의 파형도 깨끗하게 표시

DWX은 고도화하는 전자기기에 사용되는 코일부품의 소형화, 고주파화에 따른 다양한 인덕턴스 코일의 시험에 대응하는 시험기로 고속 스위치를 탑재 한 임펄스 전원, 고속 A / D 샘플링 회로 등의 채용에 의해, 지금까지 곤란했던 낮은 인덕턴스 제품의 시험이 가능합니다.

특징

  • 이제까지 곤란하였던 저인덕턴스 제품에서의 시험이 가능 DWX은 고도화하는 전자기기에 사용되는 코일부품의 소형화, 고주 화에 따른 낮은 인덕턴스 제품의 시험에 대응가능한 시험기로써 고속 스위치를 탑재 한 임펄스 전원과 고성능 입력회로, 고속 A / D 샘플링 회로 등의 채용에 의해, 지금까지 곤란했던 낮은 인덕턴스 제품의 시험이 가능하게 되었습니다.
  • 저항성분에 의한 파형의 충실도 및 방전검출감도의 향상 임펄스파형의 입력회로는 고성능 저항 분압회로를 채용함으로써 파형왜곡이 없는 충실한 파형을 얻을 수 있고 파형 판정능력 및 방전검출 감도가 향상되었습니다.
    (* 당사 DW · DWS 시리즈 (F 타입은 제외)에 비해 검출 감도가 향상되었습니다.)
  • 고속lOOMHz・8K포인트・샘플링에의한 고감도、고정도시험을 실현 고속 A / D 샘플링으로 낮은 인덕턴스 제품의 극히짧은 임펄스응답을 확실히 잡음과 함께 8K 포인트 .샘플링에 의한 고정도 데이터 판정으로 미세한 파형의 차이도 정확하게 파악할 수 있습니다.
  • 방전검사에Laplacian(라플라시안)알고리즘 채용、보조창에 알기쉽게 표시 고전압 임펄스에 의해 발생하는 방전 성분을 전압 파형에서 라플라시안 연산을 이용한 파형 분석에 의해 추출하고 서브 윈도우에 바 그래프로 표시하는 것으로, 방전 시험을 시각적으로 알기 쉽게 표시
  • 8.4인치 칼라TFT액정화면으로 명확한 화면표시
  • AREA,DIF-AREA,FLUTTER등 기존 레이어쇼트 판정기능의 전승 파형 판정은 AREA 판정 (면적비교) · DIF-AREA 판정 (파형차이 면적비교) · FLUTTER 량검출 (방전량의 검출) · LAPLACIAN 량검출 (방전량의 검출)의 검사 방법을 결합하여 모든 제품에 대해 시험 할 수 있습니다。
  • 컴팩트 플래시 메모리 카드 슬롯을 내장하여 마스터 데이터는 무한히 확장 가능

특징

임펄스 권선시험기는 권선상태로 있는 것의 전기적 시험을 능률적으로 비파괴로 시행합니다. 그 원리는 정상제품 (마스터 코일)와 피시험 권선 (샘플 코일)에 같은 임펄스 전류를 흘려 그 과도 파형을 비교하여 양부 판정을 하는 것입니다. 과도파형 즉 코일에 발생하는 감쇠 진동 파형의 의미는 인덕턴스 및 Q이며, 코일의 권수 차이와 레이어쇼트 나, 또한 코어가 있는 경우 그 재질의 차이 등을 동시에 판정 할 수 있습니다. 더 높은 임펄스 전압을 인가하여 코로나 방전의 발생에서 절연 불량도 발견 할 수 있습니다. 즉 제품의 퀄리티에 필요한 대부분의 특성을 매우 빠르게 검사 할 수 있습니다。

1.면적비교(AREA)

임의로 지정된 구간에서 마스터 및 샘플 각각의 면적의 크기를 비교합니다. 그림 1의 예에서는 a-b 구간의 면적을 산출하고,이 크기가 얼마나 다른지를 판정합니다. 판정 기준은 %로 설정하고, 판정 결과가 그 범위밖의 경우를 불량으로 판정합니다. 면적의 크기는 코일에서의 에너지 손실에 거의 비례하여 손실의 크기로 판정하게 됩니다. 예를 들어, 샘플 코일이 레이어쇼트가 되어있는 경우 등 쇼트 부분 손실의 증가가 이 결과에 반영됩니다.

2.파형차 면적비교(DIF-AREA)

임의로 지정된 구간에서 마스터 및 샘플 파형의 다른부분의 면적을 계산합니다. 그림 2의 예에서는 a-b의 구간이 면적을 산출하고, 마스터 면적 (그림 1에 해당)에 대해 어느 정도의 크기인지 판정합니다. 판정 기준은 %로 설정하고, 판정 결과가 그 범위밖의 경우를 불량으로 판정합니다. 파형 차이 면적의 크기는 L 값 및 손실의 크기의 합계로 표현됩니다. 예를 들어, L 값의 변화가 특히 문제가 되는 경우는 이 판정 방법이 유효합니다。

3.코로나양 비교판정(FLUTTERVALUE)

파형의 차이는 거의 무시하고 그림 3과 같은 코로나 방전 등의 고주파 성분의 양을 감지합니다. 임의로 지정한 구간의 파형에 대한 연산에 의한 필터링을 수행하여 코로나 성분을 검출하고, 그 크기로 판정을 합니다. 판정 기준은 정수 값으로 설정하고, 판정 결과가 그 범위밖의 경우를 불량으로 판정합니다。


4.코로나량 비교판정(LAPLACIANVALUE)

Laplacian이라는 것은 화상처리 등으로 피사체의 가장자리 강도의 검출에 사용되는 디지털 필터링 처리방법으로 FLUTTER VALUE 방식에 대해 파형 데이터를 숨겨진 수치의 불연속성 (즉 노이즈)만을 수치화 할 수 있고 정확하고 알기 쉽게 방전성분의 판정을 할 수 있습니다。

5.권선절연파괴전압 시험(ImpulseBreakDown Starting Voltage Test :BD V test)

피시험 대상 제품에 인가전압을 서서히 늘리는 시험을 실시하여 AREA 및 Laplacianl에서 절연 파괴를 판정. 파괴에 이르기 직전의 실제 시험 전압을 피시험 제품의 절연파괴전압으로 표시합니다(図4)

6.목시에 의한 판정

기억되어있는 마스터파형과 샘플파형을 간이적으로 겹쳐서 표시 할 수 있으며,이 화면에서 2 개의 제품의 특성의 차이를 쉽게 알 수 있습니다。

사양

 DWX-01A DWX-05A DWX-10A
인가전압・인가스텝 ・인가에너지 ※ 어느쪽도 1KΩ저항 50V~1000V
(10V스텝)
최대5m주울
500V~5000V
(100V스텝)
최대0.12주울
1000V~10000V
(200V스텝)
최대0.5주울
부하시험 인덕턴스 범위 10μH 이상 50μH 이상
샘플링・스피드 / 메모리 8bit/10nano-sec.(100MHz) / 8192-Byte
샘플링・범위 (WIDTH) -4、-3、-2、-1、0、1、2、3、4、5
10레인지(0은DW시리즈 호환)
시험입력회로
(임피던스)
저항분할(5MΩ)
화면표시、파형표시범위 640×480(VGA)、8.4인치 TFT칼라액정、4색표시
512×256
판정방법 마스터파형과 시험파형과의 비교 방식
파형차 면적파형 차이의 면적 · 방전량에 의한 비교판정
권선절연파괴전압 시험기능
마스터파형 기억용량 본체 196기종(14기종/14페이지)
확장 Compact Flash Memory에의해700종류(14기종/50페이지)
외부인터페이스 패러렐I/O(Start、Reset、OK、NG、Busy、Master절환등)
RS-232C(시험제어、시험데이터등)
프린트포트(화면 하드카피등)
EtherNet어댑터(옵션)
부속품 시험케이블1.65M 1본、전원케이블(3P어댑터부속)
패러렐I/O커넥터 1개
취급설명서・시험성적서 1식
사용조건 0℃~40℃ 전원전압:100V~240V±10%(공장출하설정)
외형칫수 (이동용 손잡이 제외) ・중량 345(W)×185(H)×360(D)
約10Kg
345(W)×325(H)×360(D)

DWX-01A

  • 인가전압・인가스텝 ・인가에너지 ※ 어느쪽도 1KΩ저항
    50V~1000V
    (10V스텝)
    최대5m주울
  • 부하시험 인덕턴스 범위
    10μH 이상
  • 샘플링・스피드 / 메모리
    8bit/10nano-sec.(100MHz) / 8192-Byte
  • 샘플링・범위 (WIDTH)
    -4、-3、-2、-1、0、1、2、3、4、5
    10레인지(0은DW시리즈 호환)
  • 시험입력회로
    (임피던스)
    저항분할(5MΩ)
  • 화면표시、파형표시범위
    640×480(VGA)、8.4인치 TFT칼라액정、4색표시
    512×256
  • 판정방법
    마스터파형과 시험파형과의 비교 방식
    파형차 면적파형 차이의 면적 · 방전량에 의한 비교판정
    권선절연파괴전압 시험기능
  • 마스터파형 기억용량
    본체196기종(14기종/14페이지)
    확장Compact Flash Memory에의해700종류(14기종/50페이지)
  • 외부인터페이스
    패러렐I/O(Start、Reset、OK、NG、Busy、Master절환등)
    RS-232C(시험제어、시험데이터등)
    프린트포트(화면 하드카피등)
    EtherNet어댑터(옵션)
  • 부속품
    시험케이블1.65M 1본、전원케이블(3P어댑터부속)
    패러렐I/O커넥터 1개
    취급설명서・시험성적서 1식
  • 사용조건
    0℃~40℃ 전원전압:100V~240V±10%(공장출하설정)
  • 외형칫수 (이동용 손잡이 제외) ・중량
    345(W)×185(H)×360(D)
    約10Kg

DWX-05A

  • 인가전압・인가스텝 ・인가에너지 ※ 어느쪽도 1KΩ저항
    500V~5000V
    (100V스텝)
    최대0.12주울
  • 부하시험 인덕턴스 범위
    10μH 이상
  • 샘플링・스피드 / 메모리
    8bit/10nano-sec.(100MHz) / 8192-Byte
  • 샘플링・범위 (WIDTH)
    -4、-3、-2、-1、0、1、2、3、4、5
    10레인지(0은DW시리즈 호환)
  • 시험입력회로
    (임피던스)
    저항분할(5MΩ)
  • 화면표시、파형표시범위
    640×480(VGA)、8.4인치 TFT칼라액정、4색표시
    512×256
  • 판정방법
    마스터파형과 시험파형과의 비교 방식
    파형차 면적파형 차이의 면적 · 방전량에 의한 비교판정
    권선절연파괴전압 시험기능
  • 마스터파형 기억용량
    본체 196기종(14기종/14페이지)
    확장 Compact Flash Memory에의해700종류(14기종/50페이지)
  • 외부인터페이스
    패러렐I/O(Start、Reset、OK、NG、Busy、Master절환등)
    RS-232C(시험제어、시험데이터등)
    프린트포트(화면 하드카피등)
    EtherNet어댑터(옵션)
  • 부속품
    시험케이블1.65M 1본、전원케이블(3P어댑터부속)
    패러렐I/O커넥터 1개
    취급설명서・시험성적서 1식
  • 사용조건
    0℃~40℃ 전원전압:100V~240V±10%(공장출하설정)
  • 외형칫수 (이동용 손잡이 제외) ・중량
    345(W)×185(H)×360(D)
    約10Kg

DWX-10A

  • 인가전압・인가스텝 ・인가에너지 ※ 어느쪽도 1KΩ저항
    1000V~10000V
    (200V스텝)
    최대0.5주울
  • 부하시험 인덕턴스 범위
    50μH 이상
  • 샘플링・스피드 / 메모리
    8bit/10nano-sec.(100MHz) / 8192-Byte
  • 샘플링・범위 (WIDTH)
    -4、-3、-2、-1、0、1、2、3、4、5
    10레인지(0은DW시리즈 호환)
  • 시험입력회로
    (임피던스)
    저항분할(5MΩ)
  • 화면표시、파형표시범위
    640×480(VGA)、8.4인치 TFT칼라액정、4색표시
    512×256
  • 판정방법
    마스터파형과 시험파형과의 비교 방식
    파형차 면적파형 차이의 면적 · 방전량에 의한 비교판정
    권선절연파괴전압 시험기능
  • 마스터파형 기억용량
    본체 196기종(14기종/14페이지)
    확장 Compact Flash Memory에의해700종류(14기종/50페이지)
  • 외부인터페이스
    패러렐I/O(Start、Reset、OK、NG、Busy、Master절환등)
    RS-232C(시험제어、시험데이터등)
    프린트포트(화면 하드카피등)
    EtherNet어댑터(옵션)
  • 부속품
    시험케이블1.65M 1본、전원케이블(3P어댑터부속)
    패러렐I/O커넥터 1개
    취급설명서・시험성적서 1식
  • 사용조건
    0℃~40℃ 전원전압:100V~240V±10%(공장출하설정)
  • 외형칫수 (이동용 손잡이 제외) ・중량
    345(W)×325(H)×360(D)