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방전시험기

신형임펄스 권선시험기

DWIT-05PD

저인덕턴스코일시험의 결정판
10μH코일의 파형도 클리어하게 표시

DWIT시리즈는 이제까지의 임펄스시험기“DWX시리즈“ 에서 축적된 기술, 성능, 신뢰성을 계승하며 한층더 낳은 성능향상을 추구하였습니다.
고정밀도 및 다채로운 기능과 다양한 확장성, 조작성의 향상, 충실한 외부통신 인터페이스등을 결집시킨 새로운 임펄스 시험기 입니다.

특징

  • 12bit분해능×300MHz샘플링 고분해능, 고속샘플링ADC회로에 의해 보다 고정밀도의 파형취득이 가능하게 되었습니다. 최대16384포인트의 분해능에 의해 파형의 흔들림 및 부분방전노이즈를 확실히 포착하며, 시험후에 파형의 확대표시가 가능합니다. 커서에 의해 파형의 상승(rising-up)시간과 펄스폭, Peak전압의 확인이 가능합니다.
  • 데이터베이스관리로 검사공정을 일목요연하고 관리 마스터파형, 판정조건, 시험결과(시험파형 및 판정값)을 본체내장의 데이터베이스로 보존합니다. SQL클라이언트 소프트를 이용하여 PC상에서 원격으로 열람할 수 있습니다. 그리고 시험결과를 양,부별, 일자별로 검색가능하며 NG발생율등의 분석이 가능합니다.
  • 풍부한 추가옵션 PD（부분방전）검출안테나 / 3ch+GND회로절환(내장)/ 4단자측정회로 / 인가에너지증설 / 전류측정등 풍부한 추가기능을 준비（※기능에 따라 동시탑재가 어려울 수 있습니다.）
  • 새로운 기능 10.1인치 칼라TFT액정 터치판넬에 의해 조작성향상 스크린샷의 외부메모리(USB, SD) 보존 마스터파형의［평균화 / 합성 / 시험파형］에따른 작성

개요

임펄스권선시험기는 권선상태인 시험대상에 전기적시험을 효율적, 비파괴적으로 시행합니다. 그 원리는 표준권선(마스터코일)과 피시험권선(시험대상)에 임펄스전압을 인가하고 그 과도현상파형을 비교함으로써 양,부판정을 하는 시험입니다. 과도현상파형 즉 코일내에 발생하는 감쇄진동파형이 의미하는 것은 인덕턴스 및 Q값으로 코일의 턴수나 Layer-short, Core재질의 차이등을 동시에 판정할 수 있습니다. 여기에 높은 임펄스전압을 인가함으로써 부분방전,코로나방전의 발생으로부터 절연불량을 발견할 수 있습니다. 즉 권선의 절연품질로써 필요한 대부분의 특성을 극히 짧은시간에 시험할 수 있습니다.

DWIT-05의 새로운모드

Aging Test（연속인가）모드 임의의 시간또는 횟수에 의한 연속인가기능을 탑재하였습니다. 임펄스전압의 장시간동안 연속인가에 의해 시료의 열화평가를 할 수 있습니다. 그리고 옵션으로 PD센서를 추가함으로 PDIV시간(횟수)등을 분석할 수 있습니다.

Test Result모드 시험결과의 수치를 본체메모리에 보존 그리고 OK・NG 와 NG판정이된 시험항목의 횟수를 그래프와 수치로 표시합니다. 여기에 과거1000회분의 임펄스시험의 시험화면을 보존하여 시험후 review가 가능합니다.

기존의 판정항목

분해능・샘플링주파수・샘플링수의 향상에 의해 더욱더 고정밀도로 측정

절연파괴전압시험（Break Down Voltage Test）

옵션항목인 PD센서의 추가로、PDIV test(부분붕전개시전압), RPDIV test(반복부분방전개시전압), PDEV test(부분방전소멸전압), RPDEV test(반복부분방전소멸전압)등 IEC60034-18-41、IEC61934규격에 준거한 부분방전시험을 할 수 있습니다.

새로운 시험항목을 추가!

시험대상의 특성을 나타내는 새로운 지표를 도입, 실측치의 측정 1.Frequency판정 공진주파수(f)에의한 판정 자기공진파형의 주기를 측정하고 그 평균으로 주파수를 산출합니다. 시험대상의 임피던스성분 및 콘덴서성분의 변화 혹은 손실에 의한 주파수변화가 표시됩니다. 2.Logarithmic decrement판정 대수감쇄율 σ에의한 판정 자기공진파형의 진폭을 측정하고 그 평균으로 대수감쇄율을 산출합니다. 시험대상의 임피던스성분 및 콘덴서성분의 변화 혹은 손실에 의한 감쇄의 파형에 변화가 표시됩니다. 3.Peak stability판정 공진파형의 PeakV에의한 판정 자기공진파형의 Peak전압값에서 진폭의 크기를 측정합니다. Peak전압은 파형의 틀어짐 및 방전에 의한 흔들림에 의햐 변화하므로 시험대상에 발생된 손실이 표시됩니다.

사양

인가전압 ・ 에너지 100-5000V・0.12J
전압확도 ±5.0%
인가스텝 1V
인덕턴스범위 5μ-1H
분해능 ／샘플링속도 12bit ／ 최대300MHz(20스텝)
샘플링 데이터 16384 , 8192 , 4096 , 2048 , 1024 , 512
화면표시 10.1인치칼라TFT액정(1280×800(WXGA))　터치판넬
시험모드 Impulse Test, BDV（PDIV） Test, Aging Test（NEW）
판정항목 기존판정 Area(면적비교), Dif-Area(파형차비교), Flutter(방전량비교) , Laplacian(방전량비교)
새로운판정（NEW）Pkstb(Peak전압), Freq(공진주파수), Ldec(대수감쇄율)
PDIV판정※옵션〇
안전보호기능 비상정지버튼, 인터록
내부메모리 마스터파형 1000기종(100기종/10페이지), 시험결과・전압파형(csv), 스크린샷（png)
외부인터페이스 RS-232C(최대115,200bps)
Control(NPN/PNP트랜지스터(결선에의한 절환), D-sub37pin)
Ethernet통신(1000BASE-T), 프로토콜(UDP/IP, TCP/IP)
USB2.0호스트(최대 3Mbps)
Trigger출력(임펄스전압인가 동기신호출력)
외부저장매체 USB메모리(2포트), SD카드, SDHC카드(최대32GB)
사용환경 0℃～40℃, 80%RH(결로없을 것)
입력전원 AC100 ～ 240V, 50Hz/60Hz
외형칫수・중량 342(W)×188(H)×366(D) (※돌기부 미포함)・約9.8kg
부속품 시험케이블, 전원케이블(A타입, 3P어댑터부속), 퓨즈, 취급설명서, 시험성적서
  • 인가전압 ・ 에너지
    100-5000V・0.12J
  • 전압확도
    ±5.0%
  • 인가스텝
    1V
  • 인덕턴스범위
    5μ-1H
  • 분해능 ／샘플링속도
    12bit ／ 최대300MHz(20스텝)
  • 샘플링 데이터
    16384 , 8192 , 4096 , 2048 , 1024 , 512
  • 화면표시
    10.1인치칼라TFT액정(1280×800(WXGA))　터치판넬
  • 시험모드
    Impulse Test, BDV（PDIV） Test, Aging Test（NEW）
  • 판정항목
    기존판정 Area(면적비교), Dif-Area(파형차비교), Flutter(방전량비교) , Laplacian(방전량비교)
    새로운판정（NEW）Pkstb(Peak전압), Freq(공진주파수), Ldec(대수감쇄율)
    PDIV판정※옵션〇
  • 안전보호기능
    비상정지버튼, 인터록
  • 내부메모리
    마스터파형 1000기종(100기종/10페이지), 시험결과・전압파형(csv), 스크린샷（png)
  • 외부인터페이스
    RS-232C(최대115,200bps)
    Control(NPN/PNP트랜지스터(결선에의한 절환), D-sub37pin)
    Ethernet통신(1000BASE-T), 프로토콜(UDP/IP, TCP/IP)
    USB2.0호스트(최대 3Mbps)
    Trigger출력(임펄스전압인가 동기신호출력)
  • 외부저장매체
    USB메모리(2포트), SD카드, SDHC카드(최대32GB)
  • 사용환경
    0℃～40℃, 80%RH(결로없을 것)
  • 입력전원
    AC100 ～ 240V, 50Hz/60Hz
  • 외형칫수・중량
    342(W)×188(H)×366(D) (※돌기부 미포함)・約9.8kg
  • 부속품
    시험케이블, 전원케이블(A타입, 3P어댑터부속), 퓨즈, 취급설명서, 시험성적서