インパルス巻線試験機 DWX-LI シリーズ
チップパワーインダクタのコイルにインパルス印加ができ、巻き線内の絶縁試験（サージ試験）を行います。
評価試験向け： コイル部品の詳細な評価試験に使えます。
高速検査装置向け： 試験時間 判定なし10msec 判定あり1８msecで試験します。
※（空芯コイル・パルス印加１パルス・判定なし・画面表示なしの最速時）
| DWX-300LI3a | DWX-01LI3a | DWX-05A | ||
| 用途 | 精密試験 | 超低インダクタンス | 一般コイル部品全般 | |
| インダクタンス範囲 | L-LO: 0.01μH～1μH L-HI: 1μH～100μH 2レンジ切り替え | 10μH～100mH | ||
| 最大出力電圧（無負荷） | 300V | 1000V | 5000V | |
| 測定電圧分解能 | 0.1V step | 0.3V step | 100V step | |
| 最大印加電圧（目安） | 最大印加電圧範囲(目標値)グラフ 参照 | 10μHの時1000V | ||
| 波形サンプリング分解能 | 300MHz・3.333nsec 12bit | 100MHz | ||
| 最小試験時間 (1パルス・画面表示なし) | ハイスピードモード ： 判定あり 18msec 判定無し 10msec テスタモード ： 画面表示あり 108msec 画面表示無し 53msec |
200msec | ||
| 判定項目 ・ 出力信号 (※オプション取り付け時) | 【標準判定項目】 • 試験判定：OK / NG • 面積（Area）：NG • 波形差面積（Dif Area）：NG • Peak電圧変動（PeakStb）：NG • Laplacian：NG • 減衰率（Qatt）：NG • コンタクトチェック（PreCheck）：CE 【オプション：項目別判定出力I/O】 上記の各判定項目（Area、Dif Area、PeakStb、Laplacian、Qatt）について、判定結果（NG）を外部機器へI/O信号として個別出力できる |
面積（Area%） • 波形差面積（Dif Area%） • Peak電圧（Peak Stb%） • 放電レベル（Laplacian） • 波形減衰率（Laplacian%） • 破壊電圧評価試験（BDV）手動による耐圧評価試験（Manual BDV） | ||
| 試験回路 | 4端子 | 2端子 | ||
| 試験ケーブル長範囲 | 推奨1.6m | |||
| 部分放電試験対応 | 不可 | PD対応 | ||
| 付加機能 | マスタ波形記憶数 196機種、CFメモリーカードによる拡張、RS-232C・I/Oによる外部制御、試験結果Log保存・画面ハードコピー保存 | |||
| 外部I/O制御信号 | 印加トリガ(Trig)・印加終了(Index) など 検査ハンドラ用高速インターフェイスタイミング対応 |
試験開始(Start)・試験中(Busy)など外部制御 | ||
| 外観寸法 (キャリーハンドル含まず) |
345(W)×185(H)×360(D) | |||
| 付属品 | 4端子試験ケーブル（長さ別途相談） | 2端子試験ケーブル1.6m | ||
| 電源電圧 | AC100V/115V/220V/240V ±5％ 50/60Hz 2A （出荷時工場設定） | |||
DWX-300LI3a
DWX-01LI3a
DWX-05A
