絶縁試験機 LI シリーズ
チップパワーインダクタのコイルにインパルス印加ができ、巻き線内の絶縁試験（サージ試験）を行います。
評価試験向け： コイル部品の詳細な評価試験に使えます。
高速検査装置向け： 試験時間 判定なし10msec 判定あり1８msecで試験します。
※（空芯コイル・パルス印加１パルス・判定なし・画面表示なしの最速時）
| DWX-300LI3a | DWX-01LI3a | ||
| インダクタンス範囲 | L-LO: 0.01μH～1μH L-HI: 1μH～100μH 2レンジ切り替え | ||
| 試験電圧範囲 | 1V～300V | 3V～1000V | |
| 設定電圧分解能 | 0.1V step | 0.3V step | |
| 測定電圧分解能(最小) | 0.2V/dgt | 1.0V/dgt | |
| 最大印加電圧 (目安) | 最大印加電圧範囲(目標値)グラフ 参照 | ||
| 最大出力電圧(無負荷) | L-LO: 5000V L-HI: 2500V 2レンジ切り替え | ||
| 波形サンプリング周波数・分解能 | 300MHz・3.333nsec 12bit | ||
| サンプリングレンジ(Width) | 7レンジ 手動切り替え | ||
| 印加パルス数(Pulse) | PreCheck 1パルス 試験パルス 16パルス | ||
| 最小試験時間 (1パルス・画面表示なし) | ハイスピードモード ： 判定あり 18msec 判定無し 10msec テスタモード ： 画面表示あり 108msec 画面表示無し 53msec |
||
| 判定項目 ・ 出力信号 (オプション取り付け時) | 【標準判定項目】 • 試験判定：OK / NG • 面積（Area）：NG • 波形差面積（Dif Area）：NG • Peak電圧変動（PeakStb）：NG • Laplacian：NG • 減衰率（Qatt）：NG • コンタクトチェック（PreCheck）：CE 【オプション：項目別判定出力I/O】 上記の各判定項目（Area、Dif Area、PeakStb、Laplacian、Qatt）について、判定結果（NG）を外部機器へI/O信号として個別出力できる |
||
| 試験回路 | 4端子 | ||
| 試験ケーブル長範囲 | 推奨1.6m | ||
| 付加機能 | マスタ波形記憶数 98機種、CFメモリーカードによる拡張 RS-232C・I/Oによる外部制御、試験結果Log保存・画面ハードコピー保存 |
||
| 外部I/O制御信号 | 印加トリガ(Trig)・印加終了(Index) など 検査ハンドラ用高速インターフェースタイミング対応 |
||
| 外観寸法 (キャリーハンドル含まず) | 345(W)×185(H)×360(D) | ||
| 電源電圧 | AC100/115/220/240 ±5% 切換式・受注時指定 | ||
| オプション | 試験ケーブル・各種治具・項目別判定出力I/O | ||
DWX-300LI3a
DWX-01LI3a
