コイル・トランス・モータ検査装置・計測器の開発製造|インパルス巻線試験機

製品紹介

コイルテスタ

インパルス巻線試験機 DWX シリーズ
DWX-01A【1000V】-05A【5000V】-10【10000V】

低インダクタンス・コイル試験の決定版!
10μHコイルの波形もクリアに表示

DWXは、高度化する電子機器に使われるコイル部品の、小型化・高周波数化に伴う、 さまざまなインダクタンス・コイルの試験に対応させた試験機で、高速スイッチを搭載したインパルス電源、 高速A/Dサンプリング回路などの採用により、今まで困難とされていた低インダクタンス・コイルの試験が可能になります。

DWXシリーズの特徴

今まで困難とされてきた低インクダンス・コイルの試験が可能

DWXは、高度化する電子機器に使われるコイル部品の、小型化・高周波数化に伴う、低インダクタンス・コイルの試験に対応させた試験機で、高速スイッチを搭載したインパルス電源、高性能入力回路、高速A/Dサンプリング回路、などの採用により、今まで困難とされていた低インダクタンス・コイルの試験が可能に芯ります。

抵抗分圧による波形の忠実度および放電検出感度の向上

インパルス波形の入力回路には、高性能な抵抗分圧回路を採用するととで、波形ひすみの無い忠実芯波形を得ることができ、波形判定能力および放電検出感度が向上しました。
(*弊社DW・DWSシリーズ(Fタイプは除く)と比較して検出感度が向上しています。)

高速lOOMHz・8Kポイント・サンプリングにより高感度、高精度試験を実現

高速A/Dサンプリングにより、低インダクタンス・コイルの極短インパルス応答を確実に捕らえると共に、8Kポイン卜・サンプリングによる高精細データ判定により、微少芯波形遣いも的確に捉えることができます。

放電量検査にLaplacian(ラプラシアン)アルゴリズムを採用、サブ・ウインドゥに解りやすく表示

高電圧インパルスにより発生する放電成分を、電圧波形からラプラシアン演算を用いた波形解析により抽出し、サブ・ウインドウにパーグラフ表示する事で、放電試験を視覚的に解りやすく表示

8.4インチ・カラーTFT液晶画面により、くっきり見やすい画面
AREA,DIF-AREA,FLUTTERなど従来からのレヤ・ショート判定機能の伝承

波形判定には、AREA判定(面積比較)・DIF-AREA判定(波形差面積比較)・FLUTTER量検出(放電量の検出)・LAPLACIAN量検出(放電量の検出)の検査方法を組み合わせ、あらゆるコイルについて試験する事ができます。

コンパクトフラッシュ・メモリーカード・スロット標準装備により、マスタデータは無限に拡張可能

インパルス巻線試験機の概要

インパルス巻線試験機は、巻線状態にあるものの電気的試験を能率よく、非破壊で行ないます。
その原理は、標準巻線(マスタコイル)と被試験巻線(サンプルコイル)に、同じインパルス電流を流し、その過渡現象波形を比較し、良否判定をするものです。過渡現象波形つまりコイル内に発生する減衰振動波形の意味するものは、インダクタンスおよびQであり、コイルの巻数違いやレヤ・ショー卜、さらにコアがある場合は、その材質の違いなどが同時に判定できます。さらに高いインパルス電圧を印加することにより、コロナ放電の発生から絶縁不良も発見できます。
すなわち巻線のクオリティとして必要なほとんどの性格をごく短時間で検査することができるのです。

1.面積比較(AREA)

任意に指定された区間で、マスタとサンプルそれぞれの面積の大きさを比較します。
図1の例ではa-bの区間の面積を算出し、この大きさがどの程度異なるかで判定します。判定の基準は%で設定し、判定結果がその範囲内の場合を良品と判定します。面積の大きさは、コイル内でのエネルギーの損失にほぼ比例し、損失の大きさで判定することになります。例えば、サンプルコイルがレアショー卜している場合など、ショー卜部分による損失の増大がこの結果に反映されます。

2.波形差面積比較(DIF-AREA)

任意に指定された区間で、マスタとサンプルとで波形の異なる部分の面積を計算します。
図2の例ではa-bの区間でこの面積を算出し、マスタの面積(図1に相当)に対してどの程度の大きさであるかで判定します。判定の基準は%で設定し、判定結果がその範囲内の場合を良品と判定します。波形差の面積の大きさは、Lの値および損失の大きさのトータルで表現されます。例えば、Lの値の変化を特に問題とする場合はこの判定方法が有効です。

3.コロナ量比較判定(FLUTTERVALUE)

波形の違いはほとんど無視し、図3の様なコロナ放電等の高周波成分の量を検出します。
任意に指定した区間の波形について演算によるフィルタ処理を行う事でコロナ成分を検出し、その大きさで判定を行ないます。判定の基準は整数値で設定し、判定結果がその範囲内の場合を良品と判定します。

4.コロナ量比較判定(LAPLACIANVALUE)

Laplacianとは、画像処理などで被写体のエッジの強さの検出に用いられるデジタル・フィルタ処理の手法で、FLUTTER VALUE方式に対し、波形データに隠れる数値の不連続性(すなわちノイズ)のみを数値化することができ、的確でわかりやすい放電成分の判定を行うことができます。

5.巻線絶縁破壊電圧試験機能
(ImpulseBreakeDown Starting Voltage Test :BD V test)

被試験対象コイルに対し、印加電圧を徐々に増やしながら試験を行い、AREA及びLaplacianlにて絶縁破壊を判定し、破壊に至る直前の実際の試験電圧を、被試験コイルの巻線の破壊電圧として表示します(図4)

6.目視による判定

記憶されているマスタの波形と、サンプルの波形を簡易的に重ねて表示することができ、この表示画面から2つのコイルの特性の違いを容易に見分けることができます。

DWXシリーズ仕様

  DWX-01A DWX-05A DWX-10
印加電圧・印加ステップ
・印加エネルギ
※ いずれも1KΩ抵抗負荷
に おいて
50V~1000V
(10Vステップ)
最大5mジュール
500V~5000V
(100Vステップ)
最大0.12ジュール
1000V~10000V
(100Vステップ)
最大0.5ジュール
試験インダクタンス範囲 10μH以上 10μH以上 50μH以上
サンプリング・スピード 
/ メモリ
8bit/10nano-sec.(100MHz) / 8192-Byte
サンプリング・レンジ
(WIDTH)
-4、-3、-2、-1、0、1、2、3、4、5
10レンジ(0はDWシリーズ互換)
試験入力回路
(インピーダンス)
抵抗分割(5MΩ)
画面表示、波形表示範囲 640×480(VGA)、8.4インチTFTカラー液晶、4色表示
512×256
判定方法 マスタ波形とテスト波形との比較方式
波形の面積・波形差の面積・放電量による比較判定 巻線絶縁破壊電圧試験機能 
マスタ波形
記憶容量
本体拡張 196機種(14機種/14ページ)
Compact Flash Memoryにより700種類(14機種/50ページ)
外部インターフェース パラレルI/O(Start、Reset、OK、NG、Busy、Master切換など)
RS-232C(試験制御、試験データなど)
プリンタ・ポート(画面ハードコピーなど)
EtherNetアダプタ(オプション)
付属品 試験ケーブル1.5M 1本、電源ケーブル(3Pアダプタ付)
Compact Flash Memory 1個、パラレルI/Oコネクタ 1個
取扱説明書・試験成績書 1式
使用条件 0℃~40℃ 電源電圧:100V~240V±10%(出荷時工場設定)
外形寸法
(キャリーハンドル 含まず)
・重量
345(W)×185(H)×370(D)
約10Kg
345(W)×325(H)×370(D)